Отстранение от должности (ст. 114 УПК) - это превентивно-обеспечительная мера процессуального принуждения, содержание которой состоит во временном недопущении подозреваемого или обвиняемого к выполнению своих трудовых обязанностей в целях предупреждения его попыток воспрепятствовать производ­ству по делу или исполнению приговора.

Анализ процессуального закона позволяет выделить три специальных условия временного отстранения от должности:

а) наличие у лица процессуального статуса подозреваемого или обвиняемого;

б) наличие у подозреваемого или обвиняемого статуса должностного лица. Фор­мально понятие должностного лица дано в примечании к ст. 285 УК РФ. Однако это понятие относится к субъектам должностных преступлений и не полностью раскры­вает термин «должностное лицо», используемый в процессуальном законе (ст. 114 УПК). Отстранение обвиняемого от должности преследует не только цель предотвра­щения его попыток воспрепятствовать выяснению истины, но и обеспечить исполне­ние приговора (ч. 1 ст. 111 УПК). Данная мера может обеспечивать исполнение буду­щего наказания в виде лишения права занимать определенные должности или заниматься определенной деятельностью (ст. 47 УК РФ). Поэтому обвиняемый дол­жен быть отстранен не только от государственной должности, но и от работы по спе­циальности, если преступление, вменяемое ему в вину, связано с этой работой (осо­бенно если санкция соответствующей статьи Особенной части УК РФ предусматривает наказание в виде лишения права заниматься определенной деятельностью). Напри­мер, может быть отстранен бухгалтер, обвиняемый в подделке финансовых докумен­тов; водитель, обвиняемый в преступном нарушении правил дорожного движения;

в) в отношении обвиняемого не применены меры пресечения в виде заключения под стражу или домашнего ареста. Содержание обвиняемого в условиях жесткой изо­ляции обычно само по себе исключает выполнение им своих трудовых обязанностей.

Основанием временного отстранения подозреваемого или обвиняемого от долж­ности является обоснованное предположение, что при исполнении им своих должно­стных обязанностей он может совершить новое общественно опасное деяние, вос­препятствовать выяснению истины по делу, также необходимость исполнения возможного наказания в виде лишения права заниматься определенным видом дея­тельности. Это предположение должно вытекать из конкретных фактов, установлен­ных путем доказывания.

В досудебных стадиях для временного отстранения подозреваемого или обвиня­емого от должности (кроме высших должностных лиц страны) следователь с согла­сия руководителя следственного огана, а дознаватель - с согласия прокурора выно­сит мотивированное постановление о возбуждении перед судом соответствующего ходатайства. Данная мера принуждения ограничивает конституционное право на рас­поряжение способностями к труду и выбор профессиональной деятельности (ч. 1 ст. 37

Конституции РФ), поэтому применяется только по судебному решению (п. 10 ч. 2 ст. 29 УПК). Ходатайство рассматривается районным (или военным того же уровня) су­дьей (ч. 9 ст. 31) по месту производства предварительного следствия. В течение 48 часов судья выносит постановление о временном отстранении от должности или об отказе в этом. Постановление об отстранении от должности направляется администрации по месту работы подозреваемого или обвиняемого, которая обязана его исполнить.

Процессуальный закон прямо не предусматривает временное отстранение от долж­ности в судебных стадиях. Однако такая возможность существует исходя из смысла данной меры принуждения и содержания ч. 2 ст. 29. Суд по делу, находящемуся в его производстве, должен иметь право по указанным в ст. 114 основаниям отстранить обвиняемого от должности как по инициативе стороны обвинения, так и по собствен­ной инициативе (при отсутствии возражений со стороны обвинителя).

В постановлении о временном отстранении от должности указывается решение судьи о назначении обвиняемому государственного пособия в размере 5 МРОТ.

Временное отстранение от должности отменяется по постановлению следователя, дознавателя, прокурора, судьи или по определению суда, когда отпадают основания для его применения. Во всяком случае отстранение от должности отменяется при отпадении:

а) общих условий для применения мер процессуального принуждения: при пре­кращении уголовного дела (ст. 213, 239); постановлении оправдательного приговора или приговора, не связанного с назначением наказания (ст. 306, 311); обращении об­винительного приговора к исполнению (ч. 4 ст. 390, ст. 393); приостановлении уго­ловного дела;

б) специальных условий для применения этой меры принуждения: прекращении уголовного преследования в отношении этого подозреваемого или обвиняемого, пре­кращении его трудовых отношений (ст. 77 ТК РФ); заключении обвиняемого под стра­жу или под домашний арест.

Для отстранения от должности руководителя высшего исполнительного органа государственной власти субъекта Российской Федерации (губернатора края, предсе­дателя правительства республики) существует специальная процедура (ч. 5 ст. 114 УПК). При условии обвинения столь высокопоставленного руководителя в соверше­нии умышленного преступления, за которое предусмотрено наказание свыше 5 лет лишения свободы, Генеральный прокурор РФ направляет Президенту РФ мотивиро­ванное представление о временном отстранении от должности указанного лица. Пре­зидент в течение 48 часов с момента поступления представления принимает решение об отстранении от должности или об отказе в этом.

Для ряда категорий должностных лиц, обладающих служебным иммунитетом, установлен особый порядок возбуждения уголовного дела и привлечения в качестве обвиняемых (ст. 447-448 УПК). При соблюдении этого порядка временное отстра­нение их от должности производится на общих основаниях.

Решение суда об отстранении от должности может быть обжаловано в апелляци­онном, кассационном порядке как самим обвиняемым, так и администрацией по мес­ту его работы1.

Кроме специальной меры принуждения в виде временного отстранения от долж­ности на практике иногда используется другая процедура. Если по делу будет уста­новлено, что трудовая деятельность обвиняемого (подозреваемого или его руководите­ля) послужила условием совершения преступления, то следователь вправе направить представление соответствующей администрации (ч. 2 ст. 158 УПК), а суд - частное оп­ределение (ч. 4 ст. 29 УПК) об устранении данного условия. При этом администрация, рассматривая представление и частное определение, имеет право (но не обязана) отстра­нить от работы или уволить обвиняемого в соответствии с законодательством о труде.

Еще по теме 3. Временное отстранение от должности:

1. § 6. Отстранение от управления транспортным средством.Медицинское освидетельствование на состояние опьянения.Задержание транспортного средства.Запрещение эксплуатации транспортного средства.Временный запрет деятельности
2. ГЛАВА IV, ДОЛЖНОСТИ СТАЖЕРА И ПОМОЩНИКА НОТАРИУСА. ПОРЯДОК ЗАМЕЩЕНИЯ ДОЛЖНОСТИ НОТАРИУСА, ЗАНИМАЮЩЕГОСЯ ЧАСТНОЙ ПРАКТИКОЙ
3. Отстранение от управления транспортным средством и медицинское освидетельствование на состояние опьянения
4. § 2. Должности государственной службы.Реестры должностей государственной службы
5. Чем отличается временная прописка от временной регистрации?

- Кодексы Российской Федерации - Юридические энциклопедии - Авторское право - Адвокатура - Административное право - Административное право (рефераты) - Арбитражный процесс - Банковское право - Бюджетное право - Валютное право - Гражданский процесс - Гражданское право - Договорное право - Жилищное право - Жилищные вопросы - Земельное право - Избирательное право - Информационное право - Исполнительное производство - История государства и права - История политических и правовых учений - Коммерческое право - Конституционное право зарубежных стран - Конституционное право Российской Федерации - Корпоративное право -

В лаборатории для исследования оптических свойств прозрачных пленок используется спектрофотометр "Specord UV-VIS", предназначенный для работы в ультрафиолетовой и видимой областях спектра и фотометр ЛМФ-72М. Рассмотрим конкретные задачи, которые можно решить, используя фотометрические приборы.

1. Определение показателя преломления прозрачной подложки

Показатель преломления является одной из основных оптических характеристик. Он определяет скорость распространения световой волны в веществе. Знание его необходимо для материалов, используемых в оптике.

При падении излучения интенсивностью I 0 на прозрачную подложку одна часть пучка отражается (I R), другая проходит через нее (I T) (рис.17). Не учитывая поглощения излучения внутри подложки, отметим, что доля прошедшего и отраженного излучения зависит от показателя преломления:

Рис. 17. Схематический ход лучей при падении света на прозрачную подложку

Коэффициент пропускания (Т) и коэффициент отражения подложки (R) на длине волны l могут быть рассчитаны следующим образом:

где

n п - показатель преломления подложки на длине волны l.

Таким образом, измерив коэффициент пропускания на нужной длине волны, из этого выражения можно получить показатель преломления подложки. Падение света на подложку должно быть близким к нормальному.

2. Определение толщины прозрачной пленки на прозрачной подложке

Для прозрачных тонких диэлектрических и полупроводниковых пленок при падении на них света характерны интерференционные явления (рис.18).

Рис.18. Схематический ход лучей через систему прозрачные пленка-подложка

При определенных условиях при сложении отраженных или прошедших пучков будет наблюдаться интерференция с усилением или с ослаблением интенсивности, и спектр пропускания (отражения) будет выглядеть следующим образом (рис.19).

Рис.19. Спектр пропускания системы пленка-подложка

Не рассматривая математического вывода формул, отметим, что на спектре пропускания системы пленка-подложка при нормальном падении излучения экстремальные значения наблюдаются при условии n пл ·d=m·l/4,

где n пл -показатель преломления пленки;

d-толщина пленки;

m - порядок интерференции;

l длина волны в экстремуме.

Максимальные значения коэффициента пропускания соответствуют четным m, минимальные - нечетным. Для двух соседних экстремумов с четным m можно записать:

n пл ·d = m·l m /4=(m+2)· l m+2 /4,

l m и l m+2 - длины волн, соответствующие соседним экстремумам с четным m.

Отсюда

Если показатель преломления пленки неизвестен, то его находят из выражения:

где Т-коэффициент пропускания системы пленка-подложка для нечетного m; n пл - показатель преломления пленки;

n п - показатель преломления подложки;

Определив m, n п, n пл, определяют толщину пленки d.

3. Измерение коэффициента пропускания металлических пленок

В отличие от диэлектриков и полупроводников в металлах большое число электронов слабо связано с атомами металла, и эти электроны считают свободными. Наличием свободных электронов объясняются особенности отражения света от металлической поверхности. Вторичные волны, вызванные вынужденными колебаниями свободных электронов, порождают сильную отраженную волну, интенсивность которой может достигать 95% (и даже больше) интенсивности падающей, и сравнительно слабую волну, идущую внутрь металла. Так как плотность свободных электронов весьма значительна (~ 10 22 в 1 см 3), то даже очень тонкие слои металла отражают большую часть падающего на них света. Та часть световой энергии, которая проникает внутрь металла, испытывает в нем поглощение.

Какая доля света не пропускается металлом вследствие отражения и какая задерживается в нем благодаря поглощению, зависит от его проводимости. В идеальном проводнике поглощение равно нулю, так что падающий свет полностью отражается. К такому идеалу приближаются серебряные пленки. В металлах хуже проводящих, например, в железе отражение может составлять всего лишь 30-40%, так что непрозрачная пленка железа толщиной не более доли микрона поглощает около 60% падающего на нее света.

Таким образом, характерная особенность металла, состоящая в его высокой отражательной способности и проявляющаяся в наличии особого "металлического" блеска чистой поверхности, связана с его электропроводностью. Чем больше коэффициент электропроводности, тем, в общем случае, выше отражательная способность металлов.

В нашей лаборатории отражательная способность металлов может быть измерена с помощью гелий-неонового лазера на длине волны 630 нм. Литературные данные для близкой длины волны дают следующую связь коэффициента отражения металлической пленки на длине волны 600 нм и удельного сопротивления:

Но высокие значения коэффициента отражения можно получить лишь для пленок, полученных в оптимальных условиях. Факторами, влияющими на коэффициент отражения, являются: скорость напыления, давление во время напыления, толщина напыленной пленки, температура подложки, угол падения вещества, степень чистоты испаряемого материала и, наконец, старение полученного покрытия на воздухе.

Поглощение света металлами может быть использовано для оценки толщины металлической пленки. Прохождение света через проводящие вещества определяется соотношением:

I=I 0 exp(-4πnkd/l),

где d-толщина поглощающего слоя;

n - показатель преломления для длины волны l;

k - показатель поглощения для длины волны l;

I 0 - интенсивность падающего излучения;

I - интенсивность прошедшего излучения.

Измерение коэффициента пропускания полупрозрачной металлической пленки (I/I 0) позволит оценить ее толщину по приведенной выше формуле.

Таблица 2.1

Определение коэффициента пропускания на фотометре ЛМФ-72М

Фотометр типа ЛМФ-72 предназначен для измерения коэффициента пропускания и оптической плотности в спектральном диапазоне от 365 до 750 нм и определения концентрации растворов по градуировочным графикам, а также как индикатор при проведении нефелометрического и флуориметрического анализа. Оптическая схема фотометра приведена на рис.20.

Рис.20. Оптическая схема фотометра ЛМФ-72М

1-лампа накаливания;

2-конденсор;

3-объектив;

4-щелевая диафрагма;

5-модулятор;

6-сменный интерференционный или абсорбционный светофильтр;

7-тепловой светофильтр;

8-измеряемый образец;

9-абсорбционный светофильтр; "

10-защитное стекло;

11-фотоумножитель.

Лабораторный фотометр выполнен по однолучевой схеме с модуляцией светового потока и непосредственным отсчетом. При измерении коэффициента пропускания световой поток от лампы накаливания (1), сформированный конденсором, состоящим из линз (2), и объективом (3) в параллельный пучок, через плавно регулируемую щель диафрагмы (4), модулятор светового потока (5), интерференционный светофильтр (6) проходит сквозь измеряемый образец и попадает на фотокатод светоприемника.

Порядок работы

1. Включить фотометр в сеть. Время прогрева прибора 10-15 мин.

2. Произвести калибровку шкалы Т. Для этого в гнездо "фильтр" вставьте интерференционный светофильтр с необходимой длиной волны в максимуме пропускания, кюветодержатель в положение "0". Нажмите кнопку "У" и, вращая ручку "0-точно", совместите стрелку показывающего прибора с отметкой "0" шкалы. Установите кюветодержатель в положение "100", ручкой "диафрагма" подведите стрелку прибора к отметке "100" шкалы, затем ручкой "100-точно" совместите стрелку с отметкой "100".

3. Измерение коэффициента пропускания. Установите кюветодержатель в положение "0". Снимите крышку и вставьте измеряемый образец в держатель. Закройте крышку, переведите кюветодержатель в положение "100" и произведите отсчет по шкале измерительного прибора (коэффициент пропускания в процентах).

4. Выключите фотометр.

При работе на фотометре запрещается:

Производить смену светофильтров в положении "100".

Выполнять измерения при открытой измерительной камере.

Исследование спектров пропускания и поглощения в ультрафиолетовой и видимой области спектра на приборе "Specord UV-VIS"

"Specord UV-VIS" - автоматический двухлучевой спектрофотометр, регистрирующий линейно пропускание или экстинкции проб как функцию волнового числа. Представление спектров через волновое число является удобным, так как по соотношению E = hν = hc/l = hc , где

Е-энергия;

h - постоянная Планка;

с - скорость света;

ν - частота;

l - длина волны;

Волновое число,

энергия прямопропорциональна волновому числу.

Принципиальная оптическая схема спектрофотометра "Specord UV-VIS" приведена на рис.21.

В качестве источника света в ультрафиолетовой области спектра используется дейтериевая лампа, в видимой - лампа накаливания. Световой пучок попадает на входную щель монохроматора, откуда монохроматический пучок направляется на зеркальный прерыватель, где он разделяется на два потока, образующие канал измерения и канал сравнения. На приемник излучения, в качестве которого используется сурьмяно-цезиевый фотоумножитель, падает свет то из канала образца, то из канала сравнения. Регистрация спектров производится пером на специальном бланке.

В конструкции спектрофотометра предусмотрены различные параметры регистрации. В настоящий момент на приборе установлены: масштаб волнового числа-12.5мм/1000 см -1 ; время регистрации спектра - 4.4 мин/лист; скорость регистрации-5000 см -1 /мин.

Рис.21. Оптическая схема спектрофотометра "Specord UV-VIS"

Отсчет волнового числа осуществляется по нониусу. При работе используются следующие масштабы ординат:

0 – 100 %-коэффициент пропускания, стандартная область;

0 – 20 %-коэффициент пропускания, растяжение ординат для образцов с малой проницаемостью;

0,1 - +1,4-экстинкция.

Порядок работы на спектрофотометре "Specord UV VIS"

1. Включить вилку прибора в сеть. Нажать кнопку "Сеть".

2. Включить лампу (источник света) для соответствующего участка спектра.

3. Вставить перо самописца.

4. Используя кнопки "Быстро вперед" и "Быстро назад", по нониусу против нуля установить целое число (например, 21000 см -1). Положить регистрационный лист на каретку самописца так, чтобы при закрытом канале измерения перо самописца находилось в точке пересечения горизонтальной нулевой линии и вертикальной черты.

5. Проверить положение нуля и правильность установки регистрационного листа, проведя пробную регистрацию (нажать кнопку "Пуск").

6. Установить 100%-ю линию. Открыть канал измерения и провести пробную регистрацию. Если регистрируемая линия проходит параллельно 100%, то она выводится на 100% - ю ручкой 100%-й коррекции.

7. Нажать кнопку "Быстро назад". Каретка быстро движется вправо, а регистрирующее устройство занимает левое крайнее положение.

8. Поместить измеряемый образец в кюветный отсек в ближний канал.

9. Нажать клавишу "Пуск". Начатая таким образом регистрация может быть прервана в любом месте нажатием клавиши "Стоп".

10. Вынуть регистрационный лист, выключить лампу, отжать кнопку "Сеть".

Кнопочное управление на лицевой панели

Быстро вперед. Каретка быстро двигается влево, одновременно происходит прогон волнового числа.

Быстро назад. Каретка быстро двигается вправо.

Регистрация с автоматическим возвратом каретки.

Пуск. Начало записи спектра.

Стоп. Регистрирующее устройство останавливается.

Источник излучения.

Оптические свойства тонких плёнок (значения n,k)

Показатель преломления является одной из основных оптических характеристик. Он определяет скорость распространения световой волны в веществе. Знание его необходимо для материалов, используемых в оптике.

В отличие от диэлектриков и полупроводников в металлах большое число электронов слабо связано с атомами металла, и эти электроны считают свободными. Наличием свободных электронов объясняются особенности отражения света от металлической поверхности. Вторичные волны, вызванные вынужденными колебаниями свободных электронов, порождают сильную отраженную волну, интенсивность которой может достигать 95% (и даже больше) интенсивности падающей, и сравнительно слабую волну, идущую внутрь металла. Так как плотность свободных электронов весьма значительна (~ 10 22 в 1 см 3), то даже очень тонкие слои металла отражают большую часть падающего на них света. Та часть световой энергии, которая проникает внутрь металла, испытывает в нем поглощение.

Какая доля света не пропускается металлом, вследствие отражения и какая задерживается в нем благодаря поглощению, зависит от его проводимости. В идеальном проводнике поглощение равно нулю, так что падающий свет полностью отражается. К такому идеалу приближаются серебряные пленки. В металлах хуже проводящих, например, в железе отражение может составлять всего лишь 30-40%, так что непрозрачная пленка железа толщиной не более доли микрона поглощает около 60% падающего на нее света.

Таким образом, характерная особенность металла, состоящая в его высокой отражательной способности и проявляющаяся в наличии особого "металлического" блеска чистой поверхности, связана с его электропроводностью. Чем больше коэффициент электропроводности, тем, в общем случае, выше отражательная способность металлов.

Экспериментально полученная таблица отражательной способности металлов была измерена с помощью гелий-неонового лазера на длине волны 600 нм:

Но высокие значения коэффициента отражения можно получить лишь для пленок, полученных в оптимальных условиях. Факторами, влияющими на коэффициент отражения, являются: скорость напыления, давление во время напыления, толщина напылённой пленки, температура подложки, угол падения вещества, степень чистоты испаряемого материала и, наконец, старение полученного покрытия на воздухе.

2.1.

Тонкая пленка на поверхности линзы дает минимум в отраженном свете для зеленого цвета. Чтобы минимум достигался для фиолетового цвета, можно …

А. Увеличить толщину пленки при неизменном показателе преломления.

В. Уменьшить толщину пленки при неизменном показателе преломления.

С. Увеличить показатель преломления пленки при той же ее толщине.

D. Уменьшить показатель преломления пленки при той же ее толщине

В или D

На стеклянной линзе нанесена тонкая пленка, дающая минимум в отраженном свете (просветление оптики). Какие параметры влияют на эффект просветления?

А. Толщина пленки.

В. Показатель преломления пленки.

С. Длина волны падающего света.

Только А и В

Если тонкая мыльная пленка освещается светом с длиной волны 0,6 мкм, то разность хода двух отраженных волн для светлой и следующей за ней темной интерференционных полос отличаются на … (в нм)

300 ;

Если разность фаз двух интерферирующих световых волн равна 5p, а разность хода между ними равна м, то эти волны имеют длину

(в нм), равную

4) 500

Формула связи разность хода с разностью фаз имеет вид:

2)

Тонкая стеклянная пластинка с показателем преломления и толщиной помещена между двумя средами с показателями преломления и , причем . На пластинку нормально падает свет с длиной волны . Оптическая разность хода интерферирующих отраженных лучей равна…

Тонкая стеклянная пластинка с показателем преломления и толщиной помещена между двумя средами с показателями преломления и , причем . На пластинку нормально падает свет с длиной волны . Оптическая разность хода интерферирующих отраженных лучей равна…

Тонкая стеклянная пластинка с показателем преломления и толщиной помещена между двумя средами с показателями преломления и , причем . На пластинку нормально падает свет с длиной волны . Оптическая разность хода интерферирующих отраженных лучей равна…

Появление цветных масляных полос на лужах связано с…

1) интерференцией 2) дисперсией 3) аберрацией 4) окрашенностью масла

Дифракция света

Половина дифракционной решетки перекрывается с одного конца непрозрачной преградой, в результате чего число штрихов уменьшается. Что изменится при этом?

А. Расстояние между главными максимумами.

В. Постоянная решетки.

С. Яркость максимумов.

2) только С

Наибольший порядок спектра для длины волны 400 нм, если период дифракционной решетки равен 2 мкм, равняется

5

3.3.

Одна и та же дифракционная решетка освещается различными монохроматическими излучениями. Какой рисунок соответствует освещению светом наибольшей длины волны? (Здесь J

Имеются 4 решетки с различными периодами, освещаемые одним и тем же монохроматическим излучением. Какой рисунок иллюстрирует положение главных максимумов, создаваемых дифракционной решеткой с наименьшим периодом d ? (Здесь J – интенсивность света, j – угол дифракции).

Период дифракционной решеткиd = 5 мкм. Число наблюдаемых главных максимумов в спектре дифракционной решетки для = 760 нм равно:

13 или 6(?)

3.6.

Между точечным источником и точкой наблюдения устанавливают непрозрачный экран, в котором сделано отверстие радиусом равным радиусу первой зоны Френеля. Как изменится интенсивность света в центре экрана?

1) увеличится в 4 раза

Между точечным источником и точкой наблюдения устанавливают непрозрачный экран, в котором сделано отверстие радиусом равным радиусу половины первой зоны Френеля. Как изменится интенсивность света в центре экрана?

3) увеличится в 2 раза

Между точечным источником и точкой наблюдения устанавливают непрозрачный экран, в котором сделано отверстие радиусом равным радиусу двум первым зонам Френеля. Как изменится интенсивность света в центре экрана?

Уменьшится почти до нуля

Действие зонной пластинки Френеля эквивалентно…

1) собирающей линзе

Лазер излучает свет с длиной волны 600 нм. Свет лазера делят на два пучка, которые затем направляют на экран. Определите оптическую разность хода пучков, при которой на экране наблюдается максимум освещенности. 1,2 мкм

Поляризация света

Свет, в котором направления колебаний упорядочены каким-либо образом, называется

1) поляризованным

При падении света под углом Брюстера, отражённый свет имеет следующие свойства:

3) плоско-поляризованный, вектор которого колеблется перпендикулярно плоскости падения

Интенсивность I поляризованного света, прошедшего через идеальный поляризатор, (α – угол между плоскостью колебаний падающего света и плоскостью поляризации):

5)

Для естественного света степень поляризации равна:

2) 0

Степень поляризации Р частично поляризованного света равна 0,5.

Во сколько раз отличается максимальная интенсивность света,

пропущенного через анализатор, от минимальной?

Ответ: 3

Естественный свет падает на поверхность стекла под углом Брюстера.

Чему равна степень поляризации отраженных лучей?

1

Совокупность явлений волновой оптики, в которых проявляется поперечность световых волн, называется явлением…

Поляризации

Условие максимума при дифракции на узкой щели определяется выражением:

1)

Какое из приведенных выражений определяет положения минимумов интенсивности в дифракционной картине от узкой щели.

2)

Условие максимума при дифракции на дифракционной решетке определяется выражением:

Б)

Г)